处理器芯片功耗测试方法和测试系统技术方案

本发明专利技术公开了处理器芯片功耗测试方法和测试系统，属于处理器芯片技术领域，所述方法包括：采集处理器芯片实时测试数据并进行处理，确定处理器芯片特征测试数据；训练处理器芯片功耗测试预测模型，对处理器芯片特征测试数据进行分析，预测处理器芯片功耗，确定处理器芯片功耗预测结果；以可视化形式展示处理器芯片功耗测试情况，并对处理器芯片进行管控，其中，利用动态调整系数，对设定动态功耗阈值进行调整。本发明专利技术解决了现有的不能全面评估处理器芯片的功耗特性，且不能对处理器芯片进行有效管控，导致处理器芯片功耗测试效果差的问题。本发明专利技术可全面评估处理器芯片的功耗特性，且能对处理器芯片进行有效管控，可提升处理器芯片功耗测试效果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及处理器芯片，具体为处理器芯片功耗测试方法和测试系统。

技术介绍

1、处理器芯片在实现强大的处理功能的同时，其功耗也是衡量处理器芯片性能的关键因素之一，因此，需要对处理器芯片进行功耗测试。

2、公开号为cn118070740a的中国专利公开了一种处理器芯片的制备方法及处理器芯片、电子设备和介质，包括：根据第一芯片版图制备获取第一ip核，第一ip核用于提供处理器芯片的核心功能；根据第二芯片版图制备获取第二ip核，第二ip核用于提供处理器芯片的辅助功能；不同的第一ip核对应的第一芯片版图之间的版图布局差异大于不同的第二ip核对应的第二芯片版图之间的版图布局差异。根据不同ip核的性能特质及功能需求布局对应的芯片版图，使不同第一ip核对应的第一芯片版图之间的版图布局差异大于不同的第二ip核对应的第二芯片版图之间的版图布局差异，可避免更改全层次的芯片版图，从而达到在保证芯片性能的同时可降低芯片版图的制作成本，以得到符合应用需求的处理器芯片产品；但是，该专利存在以下缺陷：

3、现有的技术，不能全面评估处理器芯片的功耗特性，且不能对处本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.处理器芯片功耗测试方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的处理器芯片功耗测试方法，其特征在于，采集处理器芯片实时测试数据，包括：

3.如权利要求1所述的处理器芯片功耗测试方法，其特征在于，对处理器芯片实时测试数据进行处理，包括：

4.如权利要求3所述的处理器芯片功耗测试方法，其特征在于，对处理器芯片实时测试数据进行处理，还包括：

5.如权利要求1所述的处理器芯片功耗测试方法，其特征在于，训练处理器芯片功耗测试预测模型，包括：

6.如权利要求5所述的处理器芯片功耗测试方法，其特征在于，对处理器芯片特征测试数据进行分析，...

【技术特征摘要】

1.处理器芯片功耗测试方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的处理器芯片功耗测试方法，其特征在于，采集处理器芯片实时测试数据，包括：

3.如权利要求1所述的处理器芯片功耗测试方法，其特征在于，对处理器芯片实时测试数据进行处理，包括：

4.如权利要求3所述的处理器芯片功耗测试方法，其特征在于，对处理器芯片实时测试数据进行处理，还包括：

5.如权利要求1所述的处理器芯片功耗测试方法，其特征在于，训练处理器芯片功耗测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：方家恩，张子重，叶永生，董永俊，
申请(专利权)人：安吉芯锐科技有限公司，
类型：发明
国别省市：