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本发明提供一种基于光强型弱测量双工作区间的高精度面阵旋光性检测系统及检测方法，所检测的是具有旋光性的物质，属于光学高精度检测领域。在光强型弱测量理论U型曲线变化图中，存在两段光强随旋光度变化相反的区间，其中一个区间内光强随着物质旋光度的增加...
该专利属于福州大学所有，仅供学习研究参考，未经过福州大学授权不得商用。

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