【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于高精度光学检测领域，具体涉及一种基于光强型弱测量双工作区间的高精度面阵旋光性检测系统及检测方法。
技术介绍
1、随着工业4.0时代的到来，对检测技术的精度和效率提出了更高的要求，光学检测方法由于其响应快、无损、非接触等优势在许多领域都具有重要的意义，而高精度的光学检测技术更是尤为可贵。量子弱测量理论通过引入近似正交的前、后选择态，并维持很小的弱耦合强度，可以获得远大于本征值的观测结果，该效应被称为弱值放大，并被广泛应用于超灵敏的物体偏转、时间延迟、温度变化、速度测量、非线性效应等微小物理量的测量。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种基于光强型弱测量双工作区间的高精度面阵旋光性检测系统及检测方法，所检测的是具有旋光性的物质，属于光学高精度检测领域。相比于单区间，本系统所使用的双区间有着更高的灵敏度。并且采用面阵探测方式，面阵的每个像素都是一个测量点，可以对物质的旋光度进行面成像，极大的提高了检测通量。
2、为实现以上目的，本专利技术所采用的技术方案为：<...
【技术保护点】
1.一种基于光强型弱测量双工作区间的高精度面阵旋光性检测系统，其特征在于，通过综合调节旋光度调制模块和两路后选择模块设置两个具有不同初始工作点的测量光路，让系统同时处于光强随旋光度变化相反的两个工作区间。
2.根据权利要求1所述的一种基于光强型弱测量双工作区间的高精度面阵旋光性检测系统，其特征在于，还包括光源模块、前选择模块、样品池模块、分光模块和两路探测模块；其中光源发出的光使用前选择模块进行预选，之后经过旋光调制模块和样品池后被分光模块分成两路，随后被后选择模块后选择，最后分别被两路探测模块记录；其中旋光调制模块用于引入初始旋光度，结合后选择模块共同调...
【技术特征摘要】
1.一种基于光强型弱测量双工作区间的高精度面阵旋光性检测系统，其特征在于，通过综合调节旋光度调制模块和两路后选择模块设置两个具有不同初始工作点的测量光路，让系统同时处于光强随旋光度变化相反的两个工作区间。
2.根据权利要求1所述的一种基于光强型弱测量双工作区间的高精度面阵旋光性检测系统，其特征在于，还包括光源模块、前选择模块、样品池模块、分光模块和两路探测模块；其中光源发出的光使用前选择模块进行预选，之后经过旋光调制模块和样品池后被分光模块分成两路，随后被后选择模块后选择，最后分别被两路探测模块记录；其中旋光调制模块用于引入初始旋光度，结合后选择模块共同调制两个探测模块分别位于光强随旋光度变化相反的两个工作区间。
3.根据权利要求2所述的一种基于光强型弱测量双工作区间的高精度面阵旋光性检测系统，其特征在于，其中光源模块包括光源(1)和准直镜(2)；旋光度调制模块包括soleil-babinet补偿器(3)组成；前选择模块包括前选择偏振片(4)和旋光色散片(5)；分光模块包括分光棱镜(6)；两路后选择模块包括后选择偏振片(7)，后选择偏振片(11)，双胶合透镜(8)，双胶合透镜(12)；两路探测模块包括套筒(9)，工业相机(10)，套筒(13)和工业相机(14)；其中光路从光源(1)发射，经过准直镜(2)准直后，由soleil-babinet补偿器(3)引入初始的旋光度，然后准直光路被前选择偏振片(4)预选；预选光路经过由旋光色散片(5)代替的样品池，再由分光棱镜(6)分为两路光束，进而分别由两个后选择偏振片(7)和后选择偏振片(11)进行光路后选择，最后分别经过两个双胶合透镜(8)和双胶合透镜(12)后被工业相机记录，其中双胶合透镜(8)被记录在工业相机(10)上；双胶合透镜(12)被记录在工业相机(14)上。
4.根据权利要求3所述的一种基于光强型弱...
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