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形成半导体结构的方法技术
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文档序号:45016721
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一种形成半导体结构的方法包括以下操作。形成沟槽于基板中。形成介电层以覆盖沟槽的内表面。在350℃至450℃的第一温度下,沉积底部导电层于介电层上且于沟槽中。在大于或等于470℃的第二温度下,对底部导电层执行退火工艺。移除底部导电层的一部分以...
该专利属于南亚科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过南亚科技股份有限公司授权不得商用。
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