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像差校正系统和包括该校正系统系统的带电粒子显微镜系统技术方案
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下载像差校正系统和包括该校正系统系统的带电粒子显微镜系统的技术资料
文档序号:44849301
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像差校正系统和包括该校正系统系统的带电粒子显微镜系统。本文提供了像差校正系统和包括该像差校正系统的带电粒子显微镜系统。装置可包括被配置为至少部分地校正该带电粒子束的轴向色差的多个静电多极元件。该装置还包括具有校正器静电棱镜的偏转器组件。该校...
该专利属于FEI公司所有,仅供学习研究参考,未经过FEI公司授权不得商用。
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