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本申请提供一种基于自学习的芯片可靠性测试干扰同步方法及相关设备，通过在接收芯片执行敏感指令前输出的同步干扰指令后，进行自学习干扰延时，并触发干扰源生成干扰信号，在自学习的过程中，若等待周期内未接收到芯片的运行状况信号，则认为芯片在干扰信号下...
该专利属于中国科学院微电子研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院微电子研究所授权不得商用。

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