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本发明提供一种失效测试电路及方法，失效测试电路包括：串联的待测器件及保护模块；其中，当待测器件发生二次击穿时，保护模块用于减小电流热效应对待测器件的影响，以保护失效位置的形貌。本发明可以使得加大电压或电流的步长更大，在保护待测器件的前提下可...
该专利属于上海积塔半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海积塔半导体有限公司授权不得商用。

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