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杭州富芯半导体有限公司
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失效判断电路及失效判断方法、阻变存储装置制造方法及图纸
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下载失效判断电路及失效判断方法、阻变存储装置的技术资料
文档序号:44580100
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本公开涉及一种失效判断电路及失效判断方法、阻变存储装置。该失效判断电路包括参考电阻选通电路和比较电路。参考电阻选通电路包括并联连接的至少两个参考电阻电路以及与各参考电阻电路分别连接的控制电路。其中,不同参考电阻电路中的参考电阻的阻值不同;控...
该专利属于杭州富芯半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过杭州富芯半导体有限公司授权不得商用。
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