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半导体设备和用于制造该半导体设备的方法技术
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文档序号:44523908
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本公开涉及半导体设备和用于制造该半导体设备的方法。一种半导体设备包括:半导体衬底,其形成为包括第一有源区和第二有源区;第一介电层,其设置在第一有源区上方;第二介电层,其设置在第二有源区上方;第一栅极电极,其设置在第一介电层上方;以及第二栅极...
该专利属于爱思开海力士有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过爱思开海力士有限公司授权不得商用。
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