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本发明涉及一种利用汞灯谱线相对比例校正仪器衰减的方法，属于校正方法技术领域。解决了现有技术中在轨仪器衰减校正方法操作繁琐、成本高等问题。本发明的方法，先在暗环境，且温度、电压、汞蒸气压强不变的条件下，使用汞灯对仪器进行照射，得到各波长下的汞...
该专利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院长春光学精密机械与物理研究所授权不得商用。

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