一种利用汞灯谱线相对比例校正仪器衰减的方法技术

本发明专利技术涉及一种利用汞灯谱线相对比例校正仪器衰减的方法，属于校正方法技术领域。解决了现有技术中在轨仪器衰减校正方法操作繁琐、成本高等问题。本发明专利技术的方法，先在暗环境，且温度、电压、汞蒸气压强不变的条件下，使用汞灯对仪器进行照射，得到各波长下的汞灯特征辐射光谱；然后以最长波长下的汞灯特征辐射光谱为基准，对各波长下的汞灯特征辐射光谱进行归一化处理，得到各波长下的汞灯特征辐射光谱的辐射相对比例；最后将各波长下的汞灯特征辐射光谱的辐射相对比例的衰减量视为仪器的衰减量，完成仪器的衰减校正。该方法成本低、效率高，能够拓展衰减校正的方法，为衰减校正提供更多思路。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于校正方法，具体涉及一种利用汞灯谱线相对比例校正仪器衰减的方法。

技术介绍

1、在轨辐射仪器校正衰减时，可以使用标准源为系统定标来测量仪器的衰减。但使用标准光源定标时通常需要根据该光源此时所处的外界条件，对比该条件下标准源的标准辐射强度，来判断仪器的衰减程度，从而校正衰减，但受限于在轨仪器的实际条件，得知外界环境的实际情况并不容易，因此想要通过对比标准值的方式来测量仪器衰减并不容易。

2、所以在轨仪器校正衰减时，通常通过设立两套结构相同的设备来校正仪器的衰减。如搭载太阳辐照度和气候试验卫星sorce(solarradiationandclimate experiment，太阳辐照度和气候试验卫星)发射的光谱辐照度检测仪sim(spectral irradiance monitor)就是通过设立两个通道，一个用于测量太阳光谱辐照度，一个用于校正衰减。

3、但是通过对比标准源的标准值来测量衰减时需要明确的外界条件，对比过程通常较为繁琐，且受限于实际观测情况，常常无法直接得知外界实际情况。

4、而使用备用通道或备用本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.利用汞灯谱线相对比例校正仪器衰减的方法，其特征在于，步骤如下：

2.根据权利要求1所述的利用汞灯谱线相对比例校正仪器衰减的方法，其特征在于，步骤一中，所述波长的范围为253-578nm。

【技术特征摘要】

1.利用汞灯谱线相对比例校正仪器衰减的方法，其特征在于，步骤如下：

2.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨小虎，马翼，黄煜，李占峰，李乐，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：