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本发明涉及一种半导体装置。半导体装置包括存储器单元阵列和外围电路。存储器单元阵列联接到多条字线和多条位线。外围电路通过向目标存储器单元施加低于第一负参考电压的第二负参考电压来执行深度擦除验证操作以确定目标存储器单元是否具有低于第一负参考电压...
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