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本发明公开了一种检测装置及检测调节方法，检测装置包括第一定位部件、第二定位部件、第三定位部件，第一定位部件包括第一基准杆、第二基准杆，第一基准杆上设有用以抵接OHB的第一基准面；第二基准杆沿第一方向滑动设置在第一基准杆上，其上设有用以抵接行...
该专利属于上海果纳半导体技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海果纳半导体技术有限公司授权不得商用。

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