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优化重叠测量条件的方法及使用重叠测量条件的重叠测量方法技术
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下载优化重叠测量条件的方法及使用重叠测量条件的重叠测量方法的技术资料
文档序号:43930892
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一种优化重叠测量条件的方法,包括:对于多个重叠测量条件中的每个重叠测量条件,测量衬底的多个位置的重叠;对于多个重叠测量条件中的每一个,基于测量的重叠计算关键参数指数(KPI);对于多个重叠测量条件中的每一个,将KPI转换为基于KPF的关键参...
该专利属于三星电子株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过三星电子株式会社授权不得商用。
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