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本发明属于温度传感器温度测量技术领域，特别涉及一种单总线温度传感器多片共用单IO口的FPGA测试方法。包括：步骤1：对温度传感器进行开始及初始化，确保单总线上连接有温度传感器；步骤2：发送搜索ROM编码地址指令，单总线上有不同ROM编码地址...
该专利属于中国电子科技集团公司第五十八研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第五十八研究所授权不得商用。

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