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本发明公开一种光模块测试影响因素的确定方法、系统及装置，首先，判断任一测试时间周期内的误码数量是否超过第一设定阈值；若是，则在相应的测试时间周期内查找误码数量超过第二设定阈值的至少一个目标采样周期，任一测试时间周期包括n个连续的采样周期；然...
该专利属于苏州联讯仪器股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州联讯仪器股份有限公司授权不得商用。

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