一种光模块测试影响因素的确定方法、系统及装置制造方法及图纸

技术编号:43882433 阅读:28 留言:0更新日期:2024-12-31 19:06
本发明专利技术公开一种光模块测试影响因素的确定方法、系统及装置,首先,判断任一测试时间周期内的误码数量是否超过第一设定阈值;若是,则在相应的测试时间周期内查找误码数量超过第二设定阈值的至少一个目标采样周期,任一测试时间周期包括n个连续的采样周期;然后,基于任一目标采样周期的时间戳遍历测试控制日志,以获得对应于任一目标采样周期的至少一个目标日志项;最后,建立目标采样周期的误码数量、目标采样周期对应的至少一个目标日志项的对应表,以确定被测光模块的测试影响因素,从而定位光模块存在的设计缺陷,协助用户对光模块进行后期改进。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于通信,具体涉及一种光模块测试影响因素的确定方法、系统及装置


技术介绍

1、光模块是一种用于光纤通信的设备,负责在网络设备(如交换机、路由器或服务器)之间进行光信号的传输,广泛应用于数据中心、电信网络和各种光纤通信场景。

2、对光模块进行测试是为确保光模块在实际使用中的稳定性和高效性,其中,误码率是衡量光模块传输质量的重要指标,通过测试误码率,可以评估光模块在传输过程中的信号完整性,防止因噪声、抖动或衰减导致错误数据的产生。

3、通常,在误码测试中,误码仪每隔200ms读取一次误码数量,例如,在某一次读取时,检测到了100个误码,即在200ms时间内产生了100个误码。但是无法定位100个误码在200ms时间内的具体分布,是在某个很短的时间内突然产生了100个误码,还是平均每隔2ms左右产生1个误码。因此,导致定位误码产生的具体影响因素非常困难。


技术实现思路

1、本专利技术实施例中提供了一种光模块测试影响因素的确定方法、系统及装置,以解决现有技术无法确认导致误码产生的影本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光模块测试影响因素的确定方法,用于被测光模块测试影响因素确定,其特征在于,所述确定方法包括:

2.根据权利要求1所述的确定方法,其特征在于,在执行所述判断任一测试时间周期内的误码数量是否超过第一设定阈值的步骤之前,所述确定方法还包括以下步骤:

3.根据权利要求1所述的确定方法,其特征在于,所述基于任一所述目标采样周期的时间戳遍历测试控制日志,以获得对应于任一所述目标采样周期的至少一个目标日志项,包括:

4.根据权利要求1所述的确定方法,其特征在于,所述确定方法还包括:

5.根据权利要求1所述的确定方法,其特征在于,所述确定方法还包括...

【技术特征摘要】

1.一种光模块测试影响因素的确定方法,用于被测光模块测试影响因素确定,其特征在于,所述确定方法包括:

2.根据权利要求1所述的确定方法,其特征在于,在执行所述判断任一测试时间周期内的误码数量是否超过第一设定阈值的步骤之前,所述确定方法还包括以下步骤:

3.根据权利要求1所述的确定方法,其特征在于,所述基于任一所述目标采样周期的时间戳遍历测试控制日志,以获得对应于任一所述目标采样周期的至少一个目标日志项,包括:

4.根据权利要求1所述的确定方法,其特征在于,所述确定方法还包括:

5.根据权利要求1所述的确定方法,其特征在于,所述确定方法还包括以下步骤:

6.根据权利要求1所述的确定方法,其特征在于,第一...

【专利技术属性】
技术研发人员:闫亚超邵毅男廉哲
申请(专利权)人:苏州联讯仪器股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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