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本申请提供一种片上校验电路、存储器及存储装置，片上校验电路包括编码器和第一纠错电路，其中编码器在写入阶段根据写入数据和纠错矩阵表征的比特分组生成第一校验码写入存储阵列，在读取阶段根据读出数据和纠错矩阵表征的比特分组生成第二校验码，并基于读出...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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