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本公开提供一种测试电路，应用于存储器技术领域。测试电路包括存储体控制电路、测试模式设置模块和存储块控制电路，存储体控制电路用于根据控制指令生成并输出均衡控制信号，控制指令包括列控制使能信号和均衡使能信号；测试模式设置模块用于接收测试模式设置...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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