测试电路和感应放大器性能测试方法技术

本公开提供一种测试电路，应用于存储器技术领域。测试电路包括存储体控制电路、测试模式设置模块和存储块控制电路，存储体控制电路用于根据控制指令生成并输出均衡控制信号，控制指令包括列控制使能信号和均衡使能信号；测试模式设置模块用于接收测试模式设置指令和列控制使能信号，生成并输出列控制测试信号；存储体控制电路与存储体控制电路和测试模式设置模块通讯连接，用于根据列控制测试信号和均衡控制信号生成预充控制信号，在感应放大器的工作阶段控制本地数据线或本地互补数据线的电位由位线均衡电压预充电至电源电压的起始时间，以控制本地数据线或本地互补数据线预充电至电源电压时产生的噪声对感应放大器的影响。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及集成电路测试，具体而言，涉及一种用于测试感应放大器性能的测试电路以及应用该测试电路实现的感应放大器性能测试方法。

技术介绍

1、感应放大器(sensor amplifier)是dram中的重要部件，其性能直接影响存储器的性能。因此，对感应放大器进行性能测试，以优化感应放大器的设计参数，是存储器制造领域的重要需求。

2、由于感应放大器部分的版图布局比较紧密，信号之间的串扰效应(coupling)引起的噪声尤其影响感应放大器的性能，因此，在对感应放大器进行性能测试时，测试感应放大器对信号噪声的抵抗能力是一个重要的测试项。

3、需要说明的是，在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

技术实现思路

1、本公开的目的在于提供一种测试电路和感应放大器性能测试方法，用于对感应放大器进行性能测试，以辅助感应放大器的设计参数优化。

2、根据本公开的第一方面，提供一种测试电路，包括：存储体控制电路，用于接本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种测试电路，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述列控制使能信号指示所述感应放大器工作在读写模式或刷新模式；所述均衡使能信号的第一状态指示所述存储体控制电路在所述感应放大器的偏移消除阶段结束之后生成均衡控制信号，所述均衡使能信号的第二状态指示所述存储体控制电路不在所述感应放大器的偏移消除阶段结束之后生成均衡控制信号；所述测试模式设置指令包括无噪声测试指令、有噪声测试指令和自适应测试指令；所述均衡控制信号包括第一均衡控制信号和第二均衡控制信号，所述预充控制信号包括第一预充控制信号、第二预充控制信号和第三预充控制信号；>

3.如权利要...

【技术特征摘要】

1.一种测试电路，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述列控制使能信号指示所述感应放大器工作在读写模式或刷新模式；所述均衡使能信号的第一状态指示所述存储体控制电路在所述感应放大器的偏移消除阶段结束之后生成均衡控制信号，所述均衡使能信号的第二状态指示所述存储体控制电路不在所述感应放大器的偏移消除阶段结束之后生成均衡控制信号；所述测试模式设置指令包括无噪声测试指令、有噪声测试指令和自适应测试指令；所述均衡控制信号包括第一均衡控制信号和第二均衡控制信号，所述预充控制信号包括第一预充控制信号、第二预充控制信号和第三预充控制信号；

3.如权利要求1或2所述的测试电路，其特征在于，所述测试模式设置指令通过第一标识符和第二标识符表示，所述测试模式设置模块包括：

4.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述存储体控制电路连接多个所述存储块控制电路；

5.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述存储块控制电路包括列操作控制电路，所述列操作控制电路根据所述列控制测试信号确定输出的所述预充控制信号的状态，所述列操作控制电路包括：

6.如权利要求5所述的测试电路，其特征在于，所述列操作信号控制通路包括：

7.一种感应放大器性能测试方法，其特征在于，通过如权利要求1-6任一项所述的测试电路执行，所述感应放大器测试电路中的感应放大器对应一组设计参数，所述设计参数包括一或多个信号特征参数以及一或多个电路特征参数，其特征在于，包括：

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述进行感应裕度测试包括：

9.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述第一读写模式下，所述感应放大器工作在读写模式，且所述存储体控制电路生成第一均衡控制信号，在所述感应...

【专利技术属性】
技术研发人员：武贤君，杨国琴，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：