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本技术公开了一种与关键构件应力集中系数相关的参数表征参数的检测装置与检测方法，包括底座、图像尺寸测量系统、白光干涉测量系统和旋转台，所述图像尺寸测量系统包括CCD工业相机一、远心镜头和同轴平行光源，所述白光干涉测量系统包括CCD工业相机二、...
该专利属于集美大学所有，仅供学习研究参考，未经过集美大学授权不得商用。

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