一种与关键构件应力集中系数参数表征参数的检测装置制造方法及图纸

本技术公开了一种与关键构件应力集中系数相关的参数表征参数的检测装置与检测方法，包括底座、图像尺寸测量系统、白光干涉测量系统和旋转台，所述图像尺寸测量系统包括CCD工业相机一、远心镜头和同轴平行光源，所述白光干涉测量系统包括CCD工业相机二、白光干涉镜头和白光光源，所述Z轴移动装置包括滚珠丝杠和压电陶瓷，所述旋转台包括旋转驱动电机、夹持转盘和固定台。本技术属于应力检测技术领域，具体解决了现有技术不能同时测量结构应力集中表征参数和表面应力集中表征参数，导致步骤复杂，需要人工旋转试棒，导致不易测到不同区域上的表面形貌的问题，是一种新型与关键构件应力集中系数相关的参数表征参数的检测装置与检测方法。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于应力检测，具体是指一种与关键构件应力集中系数相关的参数表征参数的检测装置。

技术介绍

1、关键构件是高端装备的核心主承力件，当关键构件承受循环载荷时会萌生裂纹，由于不断承受循环载荷裂纹会发生扩展最终发生疲劳断裂，这会导致严重的安全事故。裂纹萌生的根本原因是由于应力集中，应力集中系数用于描述应力集中的程度，因此提高应力集中系数的计算精度是实现关键构件技术升级的基础研究工作。应力集中系数可分为结构应力集中系数与表面应力集中系数，计算结构应力集中系数时需要得到缺口试样的结构表征参数，计算表面应力集中系数时需要得到缺口试样底部表面形貌的表征参数，因此能够便捷地获取这些表征参数是后续计算应力集中系数的基础工作。

2、目前对于关键构件如缺口试样的测量采用的是诸如激光共聚焦显微镜等商业仪器，其无法根据缺口试件的特点进行针对性测量，不具备同时测量结构应力集中表征参数和表面应力集中表征参数的功能，这导致测量表征参数的步骤复杂。在使用商业仪器的过程中，若要测量不同的缺口底部区域上的表面形貌，需要依靠人工进行试棒的旋转，这导致不易测到不同区域上的表面形貌。本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种与关键构件应力集中系数参数表征参数的检测装置，其特征在于：包括底座(1)、图像尺寸测量系统(2)、白光干涉测量系统(3)和旋转台(6)，所述图像尺寸测量系统(2)固定安装在底座(1)的两侧，所述白光干涉测量系统(3)通过Z轴移动装置(4)固定立设在底座(1)上侧，所述旋转台(6)通过精密二维移动平台(5)固定设置在底座(1)上，缺口试样(7)拆卸固定在旋转台(6)上。

2.根据权利要求1所述的一种与关键构件应力集中系数参数表征参数的检测装置，其特征在于：所述图像尺寸测量系统(2)包括CCD工业相机一(8)、远心镜头(9)和同轴平行光源(10)，所述CCD工业相机一(8...

【技术特征摘要】

1.一种与关键构件应力集中系数参数表征参数的检测装置，其特征在于：包括底座(1)、图像尺寸测量系统(2)、白光干涉测量系统(3)和旋转台(6)，所述图像尺寸测量系统(2)固定安装在底座(1)的两侧，所述白光干涉测量系统(3)通过z轴移动装置(4)固定立设在底座(1)上侧，所述旋转台(6)通过精密二维移动平台(5)固定设置在底座(1)上，缺口试样(7)拆卸固定在旋转台(6)上。

2.根据权利要求1所述的一种与关键构件应力集中系数参数表征参数的检测装置，其特征在于：所述图像尺寸测量系统(2)包括ccd工业相机一(8)、远心镜头(9)和同轴平行光源(10)，所述ccd工业相机一(8)通过安装座固定在底座(1)的一侧，所述远心镜头(9)设于安装座的另一侧和ccd工业相机一(8)位置对应，所述同轴平行光源(10)固定设于底座(1)远离远心镜头(9)的一侧。

3.根据权利要求2所述的一种与关键构件应力集中系数参数表征参数的检测装置，其特征在于：所述白光干涉测量系统(3)包括ccd工业相机二(11)、白光干涉镜头(12)和白光光源(13)，所述ccd工业相机二(11)通过连接架固定在z轴移动装置(4)上，所述白光干涉镜头(12)安装在cc...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈俊英，庄英棋，陈秀玉，蒋清山，陈仕齐，李毅，许志龙，
申请(专利权)人：集美大学，
类型：新型
国别省市：