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一种拟合连续梯度组分薄膜椭偏测量数据的方法技术
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文档序号:43680710
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本发明提出了一种拟合连续梯度组分薄膜椭偏测量数据的方法,其特征在于,具体步骤为:S1:等间隔选取多个测量点进行椭偏测试;S2:对所有测量点中靠近中心位置的测试点进行先行椭偏数据分析,得到反演结果;S3:利用评价函数来判定靠近中心位置的测试点...
该专利属于天津商业大学所有,仅供学习研究参考,未经过天津商业大学授权不得商用。
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