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本公开涉及半导体装置及执行测试模式操作的方法。一种半导体装置包括读取电路，其被配置成当测试读取控制信号使能时锁存包括关于从存储器电路输出的读取数据的错误信息的读取奇偶校验以生成锁存奇偶校验。该半导体装置还包括奇偶校验选择电路，其被配置成当测...
该专利属于爱思开海力士有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过爱思开海力士有限公司授权不得商用。

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