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本发明涉及一种存储器测试向量生成方法，通过对存储器测试的配置指令，存储单元地址，数据读写、擦除等测试指令的写入顺序、循环次数、存储单元地址迭代方式进行串行编码，根据存储单元地址，计算迭代循环次数，并开始迭代循环串行测试指令向量集，并在每次迭...
该专利属于中国电子科技集团公司第五十八研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第五十八研究所授权不得商用。

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