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位姿参数测量方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸
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文档序号:43550899
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本申请公开了一种位姿参数测量方法、装置、设备及存储介质,方法包括:获取标记图像,基于EDCA椭圆检测算法与SQPnP算法求解位姿参数初始值;基于空间圆成像模型建立模型函数;根据所述模型函数以及位姿参数初始值,构建目标函数;基于L‑M算法最小...
该专利属于北京理工大学所有,仅供学习研究参考,未经过北京理工大学授权不得商用。
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