位姿参数测量方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:43550899 阅读:19 留言:0更新日期:2024-12-03 12:33
本申请公开了一种位姿参数测量方法、装置、设备及存储介质,方法包括:获取标记图像,基于EDCA椭圆检测算法与SQPnP算法求解位姿参数初始值;基于空间圆成像模型建立模型函数;根据所述模型函数以及位姿参数初始值,构建目标函数;基于L‑M算法最小化所述目标函数,得到优化后的位姿参数。根据本申请的方法,在对标记进行位姿测量时,可以减少由于空间圆投影椭圆中心与空间圆中心投影点存在偏差,导致测量准确度低的问题。显著提高了位姿解算的准确度。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及计算机视觉,具体而言,涉及一种位姿参数测量方法、装置、设备及存储介质


技术介绍

1、根据线性相机成像模型可知,一般情况下,空间圆在相机成像平面上的投影为椭圆,并且空间圆的圆心通过透视投影变换到成像平面上后,其位置并不直接对应椭圆的质心。

2、目前一般的圆形特征中心点定位配合空间位姿解算的算法中,常将空间圆投影椭圆的质心作为空间圆圆心的投影进行空间位姿解算,这给目标和相机之间的相对空间位姿引入了误差。

3、因此,在根据标记特征进行位姿测量时,如何减少误差,提高测量结果的准确度是本领域技术人员亟待解决的技术问题。


技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种位姿参数测量方法、装置、设备及存储介质,以至少解决相关技术中位姿测量结果准确度低的技术问题。

2、根据本申请实施例的一个方面,提供了一种位姿参数测量方法,包括:

3、获取标记图像,基于edca椭圆检测算法与sqpnp算法求解位姿参数初始值;

4、基于空间圆成像模型建立模型函数;

5本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种位姿参数测量方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于EDCA椭圆检测算法与SQPnP算法求解位姿参数初始值,包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于空间圆成像模型建立模型函数,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述模型函数以及位姿参数初始值,构建目标函数,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,基于L-M算法最小化所述目标函数,得到优化后的位姿参数,包括:

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,采用所述L-M算法对所述位姿参数进行迭代优化,包...

【技术特征摘要】

1.一种位姿参数测量方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于edca椭圆检测算法与sqpnp算法求解位姿参数初始值,包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于空间圆成像模型建立模型函数,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述模型函数以及位姿参数初始值,构建目标函数,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,基于l-m算法最小化所述目标函数,得到优化后的位姿参数,包括:

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,采用所述l-m算法对所述位姿参数进行迭代优化,包括:

7.一种位姿参数测量装置,其特征在于,包括:

8.根据权利要求7所...

【专利技术属性】
技术研发人员:王泽鹏张嘉朔宫久路谌德荣
申请(专利权)人:北京理工大学
类型:发明
国别省市:

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