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一种晶圆检测方法、装置、存储介质及设备制造方法及图纸
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文档序号:43353727
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在本说明书提供的一种晶圆检测方法、装置、存储介质及设备中,通过获取待检测晶圆的表面图像,并从该表面图像的各晶粒图像中,选取一张晶粒图像作为基准图像,并将其他晶粒图像作为测试图像,在该基准图像中确定第一标记点,通过图像匹配分别在各测试图像中确...
该专利属于匠岭科技(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过匠岭科技(上海)有限公司授权不得商用。
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