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半导体装置及半导体装置的制造方法制造方法及图纸
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文档序号:43349368
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本申请涉及半导体装置及半导体装置的制造方法。半导体装置可以包括:第一半导体结构,其包括页缓冲器、第一外围电路、位于页缓冲器上的位线、以及位于位线上的层叠物,层叠物包括a)阶梯结构、b)位于层叠物上的源极结构和c)延伸穿过层叠物的沟道结构;以...
该专利属于爱思开海力士有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过爱思开海力士有限公司授权不得商用。
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