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本发明公开的一种基于偏振的双帧干涉图相位提取方法，属于光电测量技术领域。本发明实现方法为：通过采集系统采集第一张干涉图；在采集系统加入一个偏振片，采集第二张干涉图，第二张干涉图与第一张干涉图的相位差为pi/2；通过利用反正切方法获取包裹相位...
该专利属于北京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学授权不得商用。

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