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本发明涉及自动测量系统和用于自动测量系统的控制方法。自动测量系统包括：测量传感器工具，其检测待测量物体的表面以测量待测量物体的尺寸或形状；移动机构，其相对于待测量物体相对地移动测量传感器工具；和观察相机，其对待测量物体进行成像。从通过观察相...
该专利属于株式会社三丰所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社三丰授权不得商用。

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