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本技术实施例提供的一种探针卡盒和芯片测试装置，该探针卡盒包括多根探针、盒体和PCB；多根探针置于盒体中；沿盒体的厚度方向，盒体包括对置的上盖板和下盖板；上盖板远离下盖板的一侧设置有电流分配层；沿探针的延伸方向，一根探针的一端透过上盖板和电流...
该专利属于苏州晶晟微纳半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州晶晟微纳半导体科技有限公司授权不得商用。

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