下载一种用于装片机框架出料部位料盒检测方法的技术资料

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本发明涉及半导体封装技术领域,具体为一种用于装片机框架出料部位料盒检测方法,包括:使用检测设备对料盒本体的重量进行检测;检测设备包括料盒本体,料盒本体的下方设置有承压板,联动板的一端活动贯穿设置有旋转轴、且旋转轴自身保持固定;传感器安装座的...
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