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本发明提供了一种图像尺寸比对方法、装置、设备及存储介质，属于图像处理领域，其方法包括：提取原始图像的SIFT特征点，并生成第一描述子，提取待比对图像的SIFT特征点，并生成第二描述子；基于K邻近算法，对所述第一描述子与所述第二描述子进行邻近...
该专利属于武汉理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉理工大学授权不得商用。

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