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一种涉及计算电子系统的剩余使用寿命的方法、装置及计算机可读存储介质。方法包括：基于历史数据，确定电子系统的多个退化分布模型；基于比例风险退化模型对历史数据进行处理，得到第一类电子单元的可靠度函数；使用实时的测试数据基于相应的退化分布模型进行...
该专利属于西门子股份公司所有，仅供学习研究参考，未经过西门子股份公司授权不得商用。

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