计算电子系统的剩余使用寿命的方法、装置及计算机介质制造方法及图纸

一种涉及计算电子系统的剩余使用寿命的方法、装置及计算机可读存储介质。方法包括：基于历史数据，确定电子系统的多个退化分布模型；基于比例风险退化模型对历史数据进行处理，得到第一类电子单元的可靠度函数；使用实时的测试数据基于相应的退化分布模型进行计算，得到第一类电子单元的退化指数值；以及使用退化指数值，基于可靠度函数和当前测试时间点，计算电子系统的剩余使用寿命。本方法能够更精确地且更可靠地计算电子系统的剩余使用寿命，由此能够提高电子系统的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

技术介绍

技术实现思路

【技术保护点】

PCT国内申请，权利要求书已公开。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

pct国内申请，权...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘臻，庞建国，陈维刚，
申请(专利权)人：西门子股份公司，
类型：发明
国别省市：