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本公开提供的一种测试治具和测试设备，涉及半导体测试技术领域。该测试治具包括测试底座、测试板和探针，测试底座用于固定电路板上的待测芯片；测试板安装于测试底座上，测试板设有容置槽，容置槽用于容纳待测芯片；探针的一端伸入测试板的容置槽内，与待测芯...
该专利属于甬矽电子（宁波）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过甬矽电子（宁波）股份有限公司授权不得商用。

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