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芯片测试探针的弯曲装置和方法制造方法及图纸
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文档序号:42597737
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本公开涉及一种芯片测试探针的弯曲装置和方法,弯曲装置包括定位组件、抵接件、以及推进器。定位组件用于插入并定位待弯曲的探针,以及使探针的待弯曲部外露于定位组件的外部。抵接件用于与待弯曲部相互抵接固定。推进器与抵接件分别位于探针的相对两侧,推进...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。
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