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本发明提供一种高分辨率透射电子显微镜像的像差确定方法及装置，针对已知样本采集HRTEM实验像并重建预设晶态材料后表面的平均出射波函数，通过调节平均出射波函数的像差参数得到中间波函数，利用中间波函数生成预设晶态材料后表面的模拟像，通过多轮迭代...
该专利属于华南农业大学所有，仅供学习研究参考，未经过华南农业大学授权不得商用。

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