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本发明属于光子集成干涉成像技术领域，尤其涉及一种光子集成干涉成像系统的最优光谱通道设计方法。包括：S1：根据待测目标的频谱分布，对光子集成干涉成像系统的干涉阵列进行设计；S2：设定光子集成干涉成像系统的光谱通道数和初始光谱采样间隔；S3：对...
该专利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院长春光学精密机械与物理研究所授权不得商用。

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