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本发明涉及一种预估工厂良率的方法、计算机设备及存储介质，所述方法包括：获取影响工厂良率的各关键因子；获取每个关键因子分别对应的风险因子，以及每个所述关键因子分别对应的不良品的数量；根据每个风险因子的统计值及每个所述关键因子分别对应的不良品的...
该专利属于无锡华润上华科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过无锡华润上华科技有限公司授权不得商用。

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