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本技术提供了一种光模块测试装置的控温结构，涉及光模块测试技术领域。本技术中每个测试块设有用于放置光模块的限位槽，每个上控温模块设置在一个测试块的上方，用于对光模块的上表面进行控温，相邻两个上控温模块之间通过水管连通，以使得多个上控温模块串联...
该专利属于苏州联讯仪器股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州联讯仪器股份有限公司授权不得商用。

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