一种光模块测试装置的控温结构制造方法及图纸

技术编号:42245855 阅读:23 留言:0更新日期:2024-08-02 13:56
本技术提供了一种光模块测试装置的控温结构,涉及光模块测试技术领域。本技术中每个测试块设有用于放置光模块的限位槽,每个上控温模块设置在一个测试块的上方,用于对光模块的上表面进行控温,相邻两个上控温模块之间通过水管连通,以使得多个上控温模块串联,水管位于上控温模块的侧边处。每个压接结构与一个上控温模块连接,压接结构设置成在光模块位于限位槽内时带动上控温模块向下移动,以与光模块接触。上述技术方案将多个上控温模块进行串联,并将连接的水管设置成位于上控温模块的侧边,从而可以节省空间,从而节省了压接结构的占用空间,使得光模块测试装置的结构更紧凑。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及光模块测试,特别是涉及一种光模块测试装置的控温结构


技术介绍

1、在光模块的实际测试过程中,一般是一个工位操作一台只有一个光模块插槽的测试装置,或者多台只有一个光模块插槽的测试装置,多台只有一个光模块插槽的测试装置。多台只有一个光模块插槽的测试装置整体占用空间较大,作业员在进行最边缘插槽的光模块插拔时,需要站立或移动坐凳进行操作。而多通道或多插槽的两面控温的装置,一侧的制冷片散热水排做成整体,另一侧的制冷片散热水排需要通过软管将水路串联,因为软管的存在,多个散热水排需要通过软管将水路串联,因为软管的存在,多个散热水排串联后的压接结构占用的空间同样较大。


技术实现思路

1、本技术的目的是要提供一种光模块测试装置的控温结构,解决现有技术中散热水排通过水管连接占用空间大的技术问题。

2、根据本技术的目的,本技术提供了一种光模块测试装置的控温结构,包括:

3、多个测试块,每个所述测试块设有用于放置光模块的限位槽;

4、多个上控温模块,每个所述上控温模块设置在一个所述测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光模块测试装置的控温结构,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的控温结构,其特征在于,所述上控温模块包括:

3.根据权利要求2所述的控温结构,其特征在于,所述上控温模块还包括:

4.根据权利要求1-3中任一项所述的控温结构,其特征在于,所述测试块的底部设有与所述限位槽连通的第二安装槽,所述控温结构还包括:

5.根据权利要求4所述的控温结构,其特征在于,所述下控温模块包括:

6.根据权利要求5所述的控温结构,其特征在于,

7.根据权利要求6所述的控温结构,其特征在于,

8.根据权利要求7所述的...

【技术特征摘要】

1.一种光模块测试装置的控温结构,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的控温结构,其特征在于,所述上控温模块包括:

3.根据权利要求2所述的控温结构,其特征在于,所述上控温模块还包括:

4.根据权利要求1-3中任一项所述的控温结构,其特征在于,所述测试块的底部设有与所述限位槽连通的第二安装槽,所述控温结构还包括:

...

【专利技术属性】
技术研发人员:邓仁辉廉哲邵毅男
申请(专利权)人:苏州联讯仪器股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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