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本发明提供一种目标物校准响应曲线获取方法及目标物含量测量方法。本发明首先对硅纳米线传感器进行表面改性处理，尽可能排除硅纳米线表面附着的干扰物，之后通过测量零目标物溶液的阈值电压以及不同目标物含量的量化溶液的阈值电压，本发明可以构建目标物含量...
该专利属于中国科学院上海微系统与信息技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海微系统与信息技术研究所授权不得商用。

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