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本发明公开了一种基于背景板扣除内部杂散辐射的红外辐射测量方法，涉及红外系统辐射测量领域，该方法包括：步骤1，背景板和黑体图像采集策略：待黑体温度稳定后，变换衰减片，依次变换积分时间档位，采集黑体图像；黑体图像采集完后，切至背景板，采集背景图...
该专利属于中国科学院光电技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院光电技术研究所授权不得商用。

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