【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于红外系统辐射测量领域，具体涉及一种基于背景板扣除内部杂散辐射的红外辐射测量方法。
技术介绍
1、通过红外辐射特性测量，可获得目标的辐强度、辐照度、辐亮度等辐射量信息。利用这些信息，一方面可建立各类目标的辐射特性数据库，并分析它们的红外辐射特性规律，这对目标的侦察识别有极大帮助；另一方面可对目标进行定量的红外特征提取，特别是精确的红外辐射测量可获取目标准确的温度特征。因此目标的红外辐射测量已变得越来越重要。
2、红外辐射测量系统需要观测各种各样的目标，它们的辐射量变化范围十分大，若测量系统的动态范围不能覆盖目标辐射量变化范围，则会导致低辐射量目标和高辐射量目标测量失败。现有的红外辐射测量设备常采用加装衰减片的方法以实现宽动态范围的测量。红外辐射测量设备的自身热辐射很容易受环境温度的变化而变化，这很容易导致常规辐射定标方法精度降低甚至失效。目前针对该问题所采用的办法需建立红外辐射测量系统输出灰度和环境温度的经验关系，其可靠性和可行性较差。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种基于背景板扣除内部杂散辐射的红外辐射测量方法，以力图解决或至少缓解上面提到的问题。
2、本专利技术所采用的技术方案为：一种基于背景板扣除内部杂散辐射的红外辐射测量方法，该方法包括：
3、步骤1，进行背景板设计；
4、步骤2，设计背景板和黑体图像采集策略：待黑体温度稳定后，变换衰减片，依次变换积分时间档位，采集黑体图像；各衰减片采集完后，切至背景
5、步骤3，建立背景扣除的红外辐射定标模型；
6、步骤4，设计背景扣除的红外辐射定标算法：用采集的黑体图像和背景板图像处理后的数据对步骤3的红外辐射定标模型进行最优化参数估计，以获得定标增益和定标偏置，定标增益是背景扣除的红外辐射定标模型的斜率，定标偏置是背景扣除的红外辐射定标模型的截距，计算定标误差并判断定标误差是否大于误差阈值，如果大于误差阈值，则红外辐射定标算法继续迭代，直到所有温度点的定标误差都小于误差阈值；
7、步骤5，执行背景扣除的红外辐射测量策略：使用步骤4获得的定标增益，获得目标表观辐亮度。
8、本专利技术带来的有益效果：
9、（1）方法简单易行：现在的红外辐射测量系统大多都会装滤光轮和镜头盖，根据本专利技术的技术方案只需在滤光轮上多装一个背景板或对镜头盖做涂层处理即可，无需给系统增加额外的机械结构，其方法简单并且可行性高；
10、（2）测量精度更高：通过扣除背景的方法，降低了内部杂散辐射对目标灰度的影响，使得测量精度更高；
11、（3）适应环境能力更强：通过扣除背景，降低了环境温度对系统灰度值的影响，使其可以实现一次辐射定标，也可在更广泛的环境温度下使用，甚至只需在探测器本身发生老化后才需重新定标。
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1.一种基于背景板扣除内部杂散辐射的红外辐射测量方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的基于背景板扣除内部杂散辐射的红外辐射测量方法，其特征在于，步骤1包括：在滤光轮上放置背景板，该背景板的尺寸、材料与衰减片相同，表面镀有与衰减片相同的膜系，该背景板被称为滤光轮背景板；或者，在镜头盖上涂覆均匀的低发射率涂层，该涂层被称为镜头盖背景板；
3.根据权利要求2所述的基于背景板扣除内部杂散辐射的红外辐射测量方法，其特征在于，步骤3包括建立减滤光轮背景板的辐射定标数学模型和减镜头盖背景板的辐射定标数学模型：
4.根据权利要求3所述的基于背景板扣除内部杂散辐射的红外辐射测量方法，其特征在于，步骤4包括：
5.根据权利要求4所述的基于背景板扣除内部杂散辐射的红外辐射测量方法，其特征在于，步骤5通过下式执行背景扣除的红外辐射测量策略：
【技术特征摘要】
1.一种基于背景板扣除内部杂散辐射的红外辐射测量方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的基于背景板扣除内部杂散辐射的红外辐射测量方法，其特征在于，步骤1包括：在滤光轮上放置背景板，该背景板的尺寸、材料与衰减片相同，表面镀有与衰减片相同的膜系，该背景板被称为滤光轮背景板；或者，在镜头盖上涂覆均匀的低发射率涂层，该涂层被称为镜头盖背景板；
3.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员：谷牧，李素钧，周金梅，任栖锋，赵旭龙，王宇，廖胜，
申请(专利权)人：中国科学院光电技术研究所，
类型：发明
国别省市：
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