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本发明公开一种高集成性电子元器件老化测试装置，包括固定组件、上盖和底座，所述的固定组件安装在上盖之上，所述的上盖和底座一端通过连接合页转动连接，所述的上盖另一端通过扣件与底座卡扣连接。本发明可以对底座内安装的待测件直接进行测试，并将信号进行...
该专利属于浙江杭可仪器有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江杭可仪器有限公司授权不得商用。

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