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本发明公开一种半导体测试用自动上下料装置，包括转运箱、装配箱和成品箱，所述的转运箱位于装配箱一侧，所述的装配箱内设有装配组件和拉取机构。本发明能提供一种半导体测试用自动上下料装置及配套测试座，将含有待检测的元器件料盒放置到运输通道的料斗内，...
该专利属于浙江杭可仪器有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江杭可仪器有限公司授权不得商用。

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