一种半导体测试用自动上下料装置制造方法及图纸

技术编号:42026037 阅读:27 留言:0更新日期:2024-07-16 23:16
本发明专利技术公开一种半导体测试用自动上下料装置,包括转运箱、装配箱和成品箱,所述的转运箱位于装配箱一侧,所述的装配箱内设有装配组件和拉取机构。本发明专利技术能提供一种半导体测试用自动上下料装置及配套测试座,将含有待检测的元器件料盒放置到运输通道的料斗内,自动送入装配箱内,进行测试板上的安装,通过测试板上测试座的配套使用,可完成待测件在测试板上的自动安装,之后通过拉取机构送入成品箱内,进行测试使用,避免现有的半导体元器件在测试前安装待测件时,由于测试座没有对应自动打开及关闭设计,不便于自动的将待测件安装到测试座上,导致半导体元器件检测测试效率低的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体测试的,尤其涉及一种半导体测试用自动上下料装置


技术介绍

1、半导体老化测试的原理主要是基于模拟半导体在极端高温、高湿和高气压条件下的工作环境,以评估其可靠性及耐候性能,通常需要将待测的半导体电子器件安装到老化板的老化座内,之后送入老化箱内统一进行老化实验。中国专利公开了 一种半导体测试设备(公开号:cn111830401b),其包括:主体,其包括至少一个装配箱,装配箱中至少设有一个测试腔。但是这种现有的半导体自动上下料测试设备,是针对将半导体等电子器件安装到老化板上完成自动上料设计,在测试前安装待测件时,由于测试座没有对应自动打开及关闭设计,导致安装或上料设备与测试座不匹配,不便于自动的将待测件安装到测试座上,进而导致半导体元器件检测测试效率低的,为此,我们提出了一种半导体测试用自动上下料装置来解决上述问题。


技术实现思路

1、本专利技术的目的是为了克服现在现有的半导体元器件在测试前安装待测件时,由于测试座没有对应自动打开及关闭设计,导致安装设备与测试座不匹配,不便于自动的将待测件安装本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体测试用自动上下料装置,包括转运箱、装配箱和成品箱,其特征是,所述的转运箱位于装配箱一侧,所述的装配箱内设有装配组件和拉取机构,所述的装配箱和转运箱一侧共同设有送料机构,所述的送料机构内设有运输通道和出料通道,所述的运输通道内设有待测件,所述的装配组件内设有压板、伸缩杆和吸附件,所述的压板水平安装在伸缩杆上,所述的吸附件位于伸缩杆底部,当所述待测件通过运输通道运送至出料通道另一端时,所述吸附件进行吸附并运送至装配箱内,所述的成品箱位于装配箱的另一侧,所述的转运箱和成品箱为相同设计,其内部均设有收纳架,所述的成品箱、装配箱和转运箱之间依次连通,所述的收纳架在成品箱和转运箱内上下...

【技术特征摘要】

1.一种半导体测试用自动上下料装置,包括转运箱、装配箱和成品箱,其特征是,所述的转运箱位于装配箱一侧,所述的装配箱内设有装配组件和拉取机构,所述的装配箱和转运箱一侧共同设有送料机构,所述的送料机构内设有运输通道和出料通道,所述的运输通道内设有待测件,所述的装配组件内设有压板、伸缩杆和吸附件,所述的压板水平安装在伸缩杆上,所述的吸附件位于伸缩杆底部,当所述待测件通过运输通道运送至出料通道另一端时,所述吸附件进行吸附并运送至装配箱内,所述的成品箱位于装配箱的另一侧,所述的转运箱和成品箱为相同设计,其内部均设有收纳架,所述的成品箱、装配箱和转运箱之间依次连通,所述的收纳架在成品箱和转运箱内上下移动,其中位于所述转运箱内的收纳架内设有测试板,所述的测试板上安装有多排测试座,所述的拉取机构上设有抓头,所述的测试座上设有上盖、底座和卡爪,所述的上盖弹性连接在底座上,所述的卡爪活动杆转动连接在底座内,当待测件经过装配组件送至装配箱内时,所述的测试板经过底部抓头拉动,同步送至所述装配箱内并将待安装的测试座处于待测件正下方,所述待测件经过伸缩气缸推送至底部测试座内时,所述伸缩杆上的压板压动上盖并带动测试座上的卡爪打开,至所述待测件下降到位时,所述待测件送至底座内同时吸附件松开待测件,之后所述伸缩杆回升至初始高度,同时所述上盖回弹并带动所述卡爪夹紧待测件,当所述测试板上的测试座全部装配待测件后,经过抓头送至成品箱的收纳架内。

2.根据权利要求1所述的一种半导体测试用自动上下料装置,其特征是,所述的送料机构包括设置在装配箱和转运箱一侧的支撑杆,所述的运输通道位于支撑杆顶部,所述的出料通道位于运输通道一端,所述的运输通道一端设有控制器,所述的运输通道内垂直设有两个料斗,所述的两个料斗内通过限位件共同卡接有料盒,所述的运输通道底部设有收集盒,所述的收集盒对应设置在料盒底部,所述的待测件位于料盒内,所述待测件通过控制器沿运输通道送入出料通道内,最终运送至所述出料通道另一端。

3.根据权利要求1所述的一种半导体测试用自动上下料装置,其特征是,所述的装配组件包括设置在装配箱内的安装架,所述的安装架上设有相机滑轨,所述的相机滑轨上设有监测相机,所述的监测相机一侧连接有相机气缸组件,所述的安装架中部设有装配滑轨,所述的装配滑轨上连接有支撑座,所述的装配组件安装在支撑座上,所述的支撑座一侧连接有装配气缸组件,所述的支撑座顶部设有动力气缸,所述的支撑座一侧连接有安装框,所述的安装框上固定连接有工装板,所述的工装板顶部连接有伸缩气缸,所述的伸缩杆一端与伸缩气缸相连,当所述吸附件吸取待测件后,通过装配气缸组件带动装配组件在安装架上水平滑动至装配箱内的测试板顶部,同时所述监测相机监测待测件在测试座的安装情况。

4.根据权利要求1所述的一种半导体测试用自动上下料装置,其特征是,所述的拉取机...

【专利技术属性】
技术研发人员:曹佶陈铨辉刘余海
申请(专利权)人:浙江杭可仪器有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1