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提供一种液晶盒的倾角测定方法和装置，可以无需显微光学系统，且只需一次测定液晶盒的透射光强度。从光源（２１）的光取出线偏振分量的光；把该偏振分量的光照在液晶盒（２３）上以使得该光的光轴（Ｂ）与液晶盒（２３）的法线成倾斜的角度（θ）；基于透过液...
该专利属于大塚电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过大塚电子株式会社授权不得商用。

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